1. 什么是紅外線膜厚計(jì)

       紅外線吸收式測厚儀為非接觸測定，應(yīng)答速度快，使用簡單，因此在生產(chǎn)制造現(xiàn)場作為含水量、涂層或油膜厚度測量儀器被廣泛使用。起初是為了測量水分，利用紅外分光計(jì)的原理開發(fā)了便攜式、臺(tái)式以及在線用測量儀器。
       水分計(jì)用于化學(xué)、窯業(yè)、食品等粉體和紙漿制造中的含水率測量，測厚儀用于塑料膜厚度和各行業(yè)的各種涂層量的測量，是在各制造現(xiàn)場中*的測量儀器。
       這兩個(gè)測量儀器的構(gòu)造*相同，水分計(jì)是利用水OH基的吸收帶，膜厚計(jì)利用有機(jī)樹脂CH基等的吸收帶。Kurabo紅外測厚儀不僅能測量有機(jī)涂層，同樣在能對部分無機(jī)涂層進(jìn)行直接測量。

2. 有哪些不同原理的膜厚儀

       除紅外線方式外，在市場上也有很多其他測量方式的膜厚計(jì)和測厚儀。
例如：

• 放射線方式(β線、γ線、χ線、熒光χ線等)

• 光干涉方式

• 激光方式

• 電容方式

• 微波方式

• 接觸方式

       即使同樣的紅外線測厚儀，由于紅外技術(shù)水平以及應(yīng)用技術(shù)的不同，也會(huì)有很大的區(qū)別。
       理想的測厚儀只對被測物有反應(yīng)，上面列舉的各種測量方式根據(jù)測量對象的材質(zhì)和層構(gòu)成、測量范圍、要求精度、設(shè)置環(huán)境和價(jià)格等各有長短。因此選擇適合測量對象和測量目的的測厚儀zui為重要。
 

3. 紅外線膜厚儀的優(yōu)勢

       與其他測量方式比較，紅外線測厚儀具有以下主要特長。

    非接觸且應(yīng)答速度快，可以連續(xù)測量，并且對測量物無影響；

    不像射線測厚儀那樣需遵從法律規(guī)定進(jìn)行安全管理，輻射影響健康；

    不易受到測量物的振動(dòng)、表面狀態(tài)和顏色、污濁等的影響；

    通過組合zui合適的波長，測量對象和材質(zhì)，測量膜厚的范圍也擴(kuò)大；

    *的三波長技術(shù)，消除了因設(shè)備污染、電壓不穩(wěn)等造成的偏差；（Kurabo技術(shù)優(yōu)勢）

    *的技術(shù)，消除了光干涉、反射、散射造成的影響，確保了對超薄涂層的檢測精度；（Kurabo技術(shù)優(yōu)勢）

4. Kurabo 紅外膜厚儀的主要應(yīng)用

      塑料基材上的涂布量測量：

       膠布 ———粘合劑涂布量測量；

       打印機(jī)色帶 ——— 墨膜厚測量，外涂層膜厚測量；

       復(fù)合膜——-粘合劑涂布量測量(無溶劑復(fù)合和干式復(fù)合)；

       防霧加工薄板 ———加有防霧劑的水性涂層的濕膜厚度測量；

       各種表面處理加工等。

       紙、布、無紡布上的涂布量測量：

       牛皮紙膠帶和膠布——-粘合劑涂布量測量；

       加工紙和加工布——-水性涂層的濕膜厚度測量；

       其他各種表面處理加工等。

       金屬板上的涂布量測量：

       各類鋼板和鋁板的有機(jī)皮膜、氧化皮膜和合成皮膜厚度；

       罐材的有機(jī)被膜厚度；

       底漆和乙烯樹脂涂層的膜厚度；

       其他各種表面處理加工等。

       各種塑料膜以及涂層的厚度測量：

       單層膜的膜厚測量；
       PE·PP·PVC·PS·PET·PI等透明·半透明的膜厚測量；
       多層膜的各層膜厚測量；
       多層膜的總膜厚；

       耐熱陶瓷涂層，PVDF,PMMA等各類有機(jī)和無機(jī)涂層厚度測量。

       Kurabo紅外線膜厚儀的部件性能日益提高，并不斷提供新產(chǎn)品，與微處理器技術(shù)革新同步前進(jìn)。在技術(shù)應(yīng)用上不僅僅實(shí)現(xiàn)了對有機(jī)被覆磷酸、硅酮(SiO2)和氧化鋁(Al2O3)等無機(jī)氧化物、金屬上的涂層、膜上的蒸鍍膜厚度測量，今后也將密切和各位用戶進(jìn)行合作并交換信息，進(jìn)一步提高測厚儀的性能和功能，根據(jù)目的提供新機(jī)種，繼續(xù)擴(kuò)大在各領(lǐng)域的用途。